Cómo citar el equipo en un informe o publicación

Para examinar la muestra se utilizó un microscopio electrónico de barrido (SEM) Phenom Pro-X

Or

Las muestras se observaron con un microscopio electrónico de barrido (SEM) Phenom Pro-X con voltajes de aceleración entre 5 KV y 15 KV, a una distancia de trabajo (WD) de 2.5 ± 0.5 mm.

The sample was examined using a Phenom Pro-X scanning electron microscope (SEM).

Or

Samples were examined using a Phenom Pro-X scanning electron microscope (SEM) at an accelerating voltages between 5 KV and 15 KV, with a working distance of 2.5 ± 0.5 mm.

Datos del fabricante:

  Phenom-World BV
  Dillenburgstraat 9E
  Eindhoven, 5652 AM
  Netherlands

  http://www.phenom-world.com